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蔡司雙束電鏡Crossbeam系列結(jié)合了高分辨率場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡(FE-SEM)的出色成像和分析性能,以及新一代聚焦離子束(FIB)的優(yōu)異加工能力。無論是用于多用戶實(shí)驗(yàn)平臺(tái),還是科研或工業(yè)實(shí)驗(yàn)室, 利用Crossbeam系列模塊化的平臺(tái)設(shè)計(jì)理念,您可基于自身需求隨時(shí)升級(jí)儀器系統(tǒng)(例如使用LaserFIB進(jìn)行大規(guī)模材料加工)。
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